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晶振FDLD不良是什么原因造成的?

作者:華昕電子 日期:2025-04-30 瀏覽量:706

FDLD指標解析
FDLD(Frequency Deviation Limit Difference)表征晶振器件在額定驅(qū)動功率下輸出頻率的最大波動區(qū)間,其數(shù)值定義為MaxF(最大諧振頻率)與MinF(最小諧振頻率)之間的頻差范圍。作為衡量頻率穩(wěn)定性的核心參數(shù),F(xiàn)DLD的理想狀態(tài)是趨近于零值,其數(shù)值越小表明器件的頻率輸出特性越穩(wěn)定。

FDLD異常成因及影響
在晶體諧振器的生產(chǎn)過程中,當潔凈度管控不達標導致制程環(huán)境受污染時,會顯著影響晶片的振動特性。污染物附著在晶片表面或電極結(jié)構(gòu)時,會改變等效電路的阻抗匹配特性,導致諧振系統(tǒng)Q值下降。這種物理缺陷將直接造成實測FDLD值超出規(guī)格范圍,繼而引發(fā)兩方面典型失效現(xiàn)象:其一為輸出頻率偏離標稱值超出允許公差,其二表現(xiàn)為器件在特定工況下出現(xiàn)間歇性停振的異常狀態(tài)。

無源貼片晶振SMD3225 25MHz 18pF ±10ppm測試數(shù)據(jù)如下:

注:測試參考設(shè)置值為:FDLD≤±10ppm




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